Metodo e dispositivo per misure di posizione e di massa

La presente invenzione riguarda un metodo e  un dispositivo per effettuare misure di posizione, ad esempio scansioni di superfici allo scopo di studiarne topografia e proprietà fisiche con risoluzione microscopica, nonché misure di massa, in particolare di masse microscopiche, mediante sonde operanti in modalità dinamica, ossia oscillanti secondo una frequenza assegnata.